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1、电子产品的可靠性试验大致包括：高低温、温度冲击、运输振动、跌落、高加速寿命试验等。

2、其中高加速寿命试验（Highly Accelerated Life Testing，简称HALT试验）是一种对电子和机械装配件利用快速高、低温变换的震荡体系来揭示设计缺陷和不足的过程。

3、HALT的目的是在产品开发的早期阶段识别出产品的功能和破坏极限，从而优化产品的可靠性。

4、扩展资料：电子产品可靠性测试是为了评估产品在规定的寿命期间内，在预期的使用、运输或储存等所有环境下，保持功能可靠性而进行的活动。

5、是将产品暴露在自然的或人工的环境条件下经受其作用，以评价产品在实际使用、运输和储存的环境条件下的性能，并分析研究环境因素的影响程度及其作用机理。

6、电子产品可靠性试验是对产品进行可靠性调查、分析和评价的一种手段。

7、试验结果为故障分析、研究采取的纠正措施、判断产品是否达到指标要求提供依据。

8、参考资料来源：百度百科-电子产品可靠性试验。

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